Известия Саратовского университета. Новая серия.

Серия Математика. Механика. Информатика

ISSN 1816-9791 (Print)
ISSN 2541-9005 (Online)

Для цитирования:

Миронов С. В. Об одном алгоритме для поиска маски диагностической информации // Известия Саратовского университета. Новая серия. Серия: Математика. Механика. Информатика. 2008. Т. 8, вып. 2. С. 77-84. DOI: 10.18500/1816-9791-2008-8-2-77-84

Статья опубликована на условиях лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International (CC-BY 4.0).
Опубликована онлайн: 
16.06.2008
Полный текст:
скачать
(downloads: 203)
Язык публикации: 
русский
Рубрика: 
Информатика
УДК: 
681.518
DOI: 
10.18500/1816-9791-2008-8-2-77-84

Об одном алгоритме для поиска маски диагностической информации

Авторы: 
Миронов Сергей Владимирович, Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н. Г. Чернышевского
Аннотация: 

Рассматривается задача сокращения диагностической информации с использованием масок. Предлагается новый жадный алгоритм для решения упомянутой задачи. Приводятся статистические данные, подтверждающие эффективность предложенного алгоритма для диагностической информации, полученной для схем из каталога ISCAS’89.

Ключевые слова: 
-
Список источников: 
  1. Pomeranz I., Reddy S. M. On the generation of small dictionaries for fault location // Proc. of the 1992 IEEE/ACM Intern. Conf. on Computer-Aided design(ICCAD ’92). Los Alamitos, CA, USA, 1992. P. 272–279.
  2. Arslan B., Orailoglu A. Fault dictionary size reduction through test response superposition // Proc. of the 2002 IEEE Intern. Conf. on Computer Design: VLSI in Computers (ICCD’02). Washington, DC, USA, 2002. P. 480–485.
  3. Boppana V., Hartanto I., Fuchs W. K. Full fault dictionary storage based on labeled tree encoding // Proc. of 14th VLSI Test Symposium. Washington, DC, USA, 1996. P. 174–179.
  4. Abramovici M., Breuer M. A., Friedman A. D. Digital Systems Testing and Testable Design. N.Y.: Computer Science Press, Inc., 1996.
  5. Ярмолик В. Н. Контроль и диагностика цифровых узлов ЭВМ. Минск: Наука и техника, 1988.
  6. Ryan P. G., Fuchs W. K., Pomeranz I. Fault dictionary compression and equivalence class computation for sequential circuits // Proc. of IEEE Intern. Conf. on Computer-Aided Design (ICCAD’93). Los Alamitos, CA,USA, 1993. P. 508–511.
  7. Boppana V., Fuchs W. K. Fault dictionary compaction by output sequence removal // Proc. of the 1994 IEEE/ACM Intern. Conf. on Computer-aided design (ICCAD ’94). Los Alamitos, CA, USA, 1994. P. 576–579.
  8. Chess B., Larrabee T. Creating small fault dictionaries // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 1999. Vol. 18. No 3. P. 346–356.
  9. Малышенко Ю. В., Раздобрев А. Х. Метод сокращения объема диагностической информации, используемой для поиска неисправностей // Автоматика и телемеханика. 1977. No 4. С. 160–164.
  10. Сперанский Д. В., Шатохина Н. К. Методы оптимизации диагностической информации // Теоретические проблемы кибернетики. Саратов: Изд-во Сарат.ун-та, 1986. С. 129–132.
  11. Чипулис В. П. Методы минимизации разрешающей способности и диагностической информации // Автоматика и телемеханика. 1975. No 3. С. 133–141.
  12. Чипулис В. П. Исследование диагностической информации при контроле и поиске неисправностей дискретных устройств // Автоматика и телемеханика.1975. No 8. С. 150–157.
  13. Чипулис В. П. Методы предварительной обработки и формы задания диагностической информации для поиска неисправностей дискретных устройств // Автоматика и телемеханика. 1977. No 4. С. 165–175.
  14. Сперанский Д. В., Шатохина Н. К. Приближенные методы решения задач оптимизации глубины диагностирования дискретных устройств // Многопроцессорные вычислительные структуры. Таганрог: Изд-во Таганр. радиотехн. ин-та, 1985. Вып. 7 (XIV) С. 70–72.
  15. Вознесенский С. С., Раздобреев А. Х. Трудоемкость поиска неисправностей как критерий качества при сокращении объема диагностической информации //Электронное моделирование. 1980. No 4. С. 83–86.
  16. Барашко А. С., Скобцов Ю. А., Сперанский Д. В. Моделирование и тестирование дискретных устройств. Киев: Наук. думка, 1992.
  17. Сперанский Д. В. Об одном подходе к решению задач сокращения объема диагностической информации // Автоматика и телемеханика. 1984. No 3.С. 151–160.
  18. Шаршунов С. Г. Особенности диагноза технического состояния многовыходных объектов с использованием таблиц неисправностей // Автоматика и телемеханика. 1973. No 12. С. 161–168.
  19. Quinlan J. R. C4.5: programs for machine learning. San Francisco. CA, USA: Morgan Kaufmann Publishers Inc., 1993.
  20. Brglez F., Bryan D., Kozminski K. Combinational profiles of sequential benchmark circuits // Proc. of Intern. Symposium on Circuits and Systems. Portland,OR, USA, 1989 P. 1929–1934.
  21. Niermann T., Patel J. HITEC: a test generation package for sequential circuits // Proc. of European Design Automation Conf. Los Alamitos, CA, USA, 1991.P. 214–218.
Поступила в редакцию: 
25.06.2008
Принята к публикации: 
25.06.2008
Опубликована: 
25.07.2008
  • 1190 просмотров