Известия Саратовского университета. Новая серия.

Серия Математика. Механика. Информатика

ISSN 1816-9791 (Print)
ISSN 2541-9005 (Online)


Для цитирования:

Гольдштейн В. Б., Миронов С. В. Хеш-функции для сокращения диагностической информации // Известия Саратовского университета. Новая серия. Серия : Математика. Механика. Информатика. 2007. Т. 7, вып. 2. С. 76-81. DOI: 10.18500/1816-9791-2007-7-2-76-81

Статья опубликована на условиях лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International (CC-BY 4.0).
Опубликована онлайн: 
07.08.2007
Полный текст:
(downloads: 95)
Язык публикации: 
русский
Рубрика: 
УДК: 
681.518

Хеш-функции для сокращения диагностической информации

Авторы: 
Гольдштейн Виталий Борисович, Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н. Г. Чернышевского
Миронов Сергей Владимирович, Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н. Г. Чернышевского
Аннотация: 

Исследуется задача сокращения диагностической информации, используемой при локализации неисправностей дискретных устройств (ДУ). Предлагается решать эту задачу за счет подбора хеш-функции, возвращающей компактные свертки для полных реакций ДУ и реакций его неисправных модификаций на диагностический тест. Приводятся статистические данные, подтверждающие эффективность предложенного подхода.

Ключевые слова: 
Список источников: 
  1. Abramovici M., Breuer M.A., Friedman A.D. Digital Systems Testing and Testable Design. N.Y.: Computer Science Press, Inc., 1996.
  2. Ryan P.G., Rawat S., Fuchs W.K. Two-stage fault location // Proc. of International Test Conf. 1991. P. 963–968.
  3. Boppana V., Hartanto I., Fuchs W.K. Full fault dictionary storage based on labeled tree encoding // Proc. of 14th VLSI Test Symposium. 1996. P. 174–179.
  4. Pomeranz I., Reddy S.M. On the generation of small dictionaries for fault location // Proc. of the 1992 IEEE/ACM International Conf. on Computer-Aided design (ICCAD ’92). 1992. P. 272–279.
  5. Ryan P.G., Fuchs W.K., Pomeranz I. Fault dictionary compression and equivalence class computation for sequential circuits // Proc. of IEEE International Conf. on Computer-Aided Design (ICCAD’93). 1993. P. 508–511.
  6. Chess B., Larrabee T. Creating small fault dictionaries // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 1999. Vol. 18. № 3. P. 346–356.
  7. Arslan B., Orailoglu A. Fault dictionary size reduction through test response superposition // Proc. of the 2002 IEEE International Conf. on Computer Design: VLSI in Computers (ICCD’02). 2002. P. 480–485.
  8. Сперанский Д.В. Об одном подходе к решению задач сокращения объема диагностической информации // Автоматика и телемеханика. 1984. № 3. С. 151–160.
  9. Барашко А.С., Скобцов Ю.А., Сперанский Д.В. Моделирование и тестирование дискретных устройств. Киев: Наук. думка, 1992.
  10. Ахо А., Хопкрофт Дж., Ульман Дж. Структуры данных и алгоритмы. М.: Изд. дом «Вильямс», 2003.
  11. Кармен Т., Лейзерсон Ч., Ривест Р. Алгоритмы, построение и анализ. М.: МЦНМО, 2002.
  12. Niermann T., Patel J. HITEC: a test generation package for sequential circuits // Proc. European Design Automation Conf. 1991. P. 214–218.
  13. Закревский А.Д., Поттосин Ю.В., Черемисинова Л.Д. Основы логического проектирования. Кн. 1. Комбинаторные алгоритмы дискретной математики. Минск: ОИПИ НАН Беларуси, 2004.