Образец для цитирования:

Гольдштейн В. Б., Миронов С. В. Хеш-функции для сокращения диагностической информации // Изв. Сарат. ун-та. Нов. сер. Сер. Математика. Механика. Информатика. 2007. Т. 7, вып. 2. С. 76-81.


Язык публикации: 
русский
Рубрика: 
УДК: 
681.518

Хеш-функции для сокращения диагностической информации

Аннотация: 

Исследуется задача сокращения диагностической информации, используемой при локализации неисправностей дискретных устройств (ДУ). Предлагается решать эту задачу за счет подбора хеш-функции, возвращающей компактные свертки для полных реакций ДУ и реакций его неисправных модификаций на диагностический тест. Приводятся статистические данные, подтверждающие эффективность предложенного подхода.

Ключевые слова: 
Библиографический список

1. Abramovici M., Breuer M.A., Friedman A.D. Digital Systems Testing and Testable Design. N.Y.: Computer Science Press, Inc., 1996.

2. Ryan P.G., Rawat S., Fuchs W.K. Two-stage fault location // Proc. of International Test Conf. 1991. P. 963– 968.

3. Boppana V., Hartanto I., Fuchs W.K. Full fault dictionary storage based on labeled tree encoding // Proc. of 14th VLSI Test Symposium. 1996. P. 174-179.

4. Pomeranz I., Reddy S.M. On the generation of small dictionaries for fault location // Proc. of the 1992 IEEE/ACM International Conf. on Computer-Aided design (ICCAD ’92). 1992. P. 272–279.

5. Ryan P.G., Fuchs W.K., Pomeranz I. Fault dictionary compression and equivalence class computation for sequential circuits // Proc. of IEEE International Conf. on Computer-Aided Design (ICCAD’93). 1993. P. 508-511.

6. Chess B., Larrabee T. Creating small fault dictionaries // IEEE Transactions on Computer-Aided Design of Integrated Circuits and Systems. 1999. Vol. 18. № 3. P. 346–356.

7. Arslan B., Orailoglu A. Fault dictionary size reduction through test response superposition // Proc. of the 2002 IEEE International Conf. on Computer Design: VLSI in Computers (ICCD’02). 2002. P. 480–485.

8. Сперанский Д.В. Об одном подходе к решению задач сокращения объема диагностической информации // Автоматика и телемеханика. 1984. № 3. С. 151–160.

9. Барашко А.С., Скобцов Ю.А., Сперанский Д.В. Моделирование и тестирование дискретных устройств. Киев: Наук. думка, 1992.

10. Ахо А., Хопкрофт Дж., Ульман Дж. Структуры данных и алгоритмы. М.: Изд. дом «Вильямс», 2003.

11. Кармен Т., Лейзерсон Ч., Ривест Р. Алгоритмы, построение и анализ. М.: МЦНМО, 2002.

12. Niermann T., Patel J. HITEC: a test generation package for sequential circuits // Proc. European Design Automation Conf. 1991. P. 214–218.

13. Закревский А.Д., Поттосин Ю.В., Черемисинова Л.Д. Основы логического проектирования. Кн. 1. Комбинаторные алгоритмы дискретной математики. Минск: ОИПИ НАН Беларуси, 2004. 

Полный текст в формате PDF: