Известия Саратовского университета. Новая серия.

Серия Математика. Механика. Информатика

ISSN 1816-9791 (Print)
ISSN 2541-9005 (Online)


Для цитирования:

Уколов И. В. Синтез псевдослучайных контролирующих тестов для дискретного устройства // Известия Саратовского университета. Новая серия. Серия : Математика. Механика. Информатика. 2008. Т. 8, вып. 1. С. 64-70. DOI: 10.18500/1816-9791-2008-8-1-64-70

Статья опубликована на условиях лицензии Creative Commons Attribution 4.0 International (CC-BY 4.0).
Опубликована онлайн: 
03.03.2008
Полный текст:
(downloads: 149)
Язык публикации: 
русский
Рубрика: 
УДК: 
519.713:681.3

Синтез псевдослучайных контролирующих тестов для дискретного устройства

Авторы: 
Уколов И. В., Саратовский национальный исследовательский государственный университет имени Н. Г. Чернышевского
Аннотация: 

В статье рассматривается псевдослучайный метод построения контролирующих тестов для дискретных устройств, применимый как к комбинационным, так и к последовательностным устройствам. Используется энтропийный подход для отыскания оптимального распределения вероятностей входных наборов, что позволяет сокращать среднюю длину генерируемых тестов. Для определения упомянутых вероятностей решается многомерная задача поиска максимума выходной энтропии с применением генетического алгоритма. Рассмотрена задача моделирования исправного устройства и неисправных модификаций c использованием системы моделирования Active-HDL. Приведены результаты построения тестов для схем из международного каталога ISCAS’89. Выполнено их сравнение с данными, полученными другими авторами с использованием иных генетических алгоритмов.

Ключевые слова: 
Список источников: 
  1. Agrawal V.D. An Information Theoretic Approach to Digital Fault Testing // IEEE Transactions on Computers. 1981. V. 30. P. 582–587.
  2. Holland J.H. Adaptation in Natural and Artificial Systems. University of Michigan Press, Ann Arbor, 1975.
  3. Суворова Е.А., Шейнин Ю.Е. Проектирование цифровых систем на VHDL. СПб.: БХВ-Петербург, 2003.
  4. Скобцов Ю.А., Скобцов В.Ю. Логическое моделирование и тестирование цифровых устройств. Донецк: Изд-во Донецк. техн. ун-та, 2005.